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Keithley 2510-AT 温度控制(TEC)源表

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2510-AT
其他测试设备

特点


主动温度控制

50W TEC 控制器

全数字 P-I-D 控制

适用于热控制环路的自动调谐功能 (2510-AT)

宽温度设定值范围(–50°C 至 +225°C)以及高设定值分辨率 (±0.001°C) 和稳定性 (±0.005°C)

兼容于多种温度传感器输入 — 热敏电阻、RTD 和 IC 传感器

交流欧姆测量功能

适用于热反馈元件的四线开路/短路引线检测



优势

防止温度变化可能引起激光二极管主输出波长发生变化,导致出现信号重叠和串扰问题。

比其他低功耗解决方案提供更高的测试速度和更宽的温度设定值范围。

提供更高的温度稳定性,并可通过简单的固件变化轻松升级。

无需反复试验即可确定 P、I 和 D 系数的最佳组合。

能够满足大部分冷却光学元器件和子装配件生产测试的测试要求。

适合最常用于各类激光二极管模块的温度传感器类型。

验证 TEC 器件的完整性。

消除引线电阻测量值误差,减少假故障或设备损坏的可能性。

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